Verification Regulation of The DCbridges
本檢定規(guī)程經(jīng)國(guó)家計(jì)量局于1986年11月11日批準(zhǔn)，并自1987年9月11日起施行。
歸口單位：上海市標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量管理局
技術(shù)查詢 上海迪一儀表有限公司 解永平021-2281888113701794557 ZY4型雙臂電橋檢定標(biāo)準(zhǔn)器 DY4型單臂電橋檢定標(biāo)準(zhǔn)器
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起草單位：上海市計(jì)量技術(shù)研究所
本規(guī)程技術(shù)條文由起草單位負(fù)責(zé)解釋。
本規(guī)程主要起草人：董永寧(上海市計(jì)量技術(shù)研究所)
直流電橋檢定規(guī)程
本檢定規(guī)程適用于新制造、使用中和修理后的電阻型直流電橋(以下簡(jiǎn)稱電橋)的檢定。其電阻測(cè)量上限小于106Ω，準(zhǔn)確度等級(jí)等于或低于0.005級(jí)。
本規(guī)程不適用于自動(dòng)電橋、半自動(dòng)電橋、電流比較儀電橋及其它特殊用途電橋的檢定。
一技術(shù)要求
1 外觀及標(biāo)志
1.1 電橋的銘牌或外殼上應(yīng)有：
產(chǎn)品名稱、型號(hào)、出廠編號(hào)、制造廠名稱或商標(biāo)；
有效量程及總有效量程；
各有效量程的準(zhǔn)確度等級(jí)；
試驗(yàn)電壓。
1.2 電橋上的端鈕應(yīng)有明顯的使用標(biāo)志。電橋上應(yīng)有封印的位置。
2 電橋的允許基本誤差應(yīng)符合以下計(jì)算公式：
式中: Elim-電橋的允許基本誤差(Ω)；
RN-基準(zhǔn)值(Ω)；
X-標(biāo)度盤(pán)示值(Ω)；
k-制造廠規(guī)定的數(shù)值，但必須≥10；
a-準(zhǔn)確度等級(jí)。
用相對(duì)誤差來(lái)表示：
3 電橋的絕緣電阻應(yīng)同時(shí)滿足下列兩個(gè)要求：
3.1 在電橋總有效量程內(nèi)，當(dāng)電橋平衡時(shí)，電橋上的任意一個(gè)端鈕(除非制造廠規(guī)定該端鈕不允許接地外)與外殼(外殼必須接地，若電橋的外殼是絕緣材料，則電橋放在金屬板上，金屬板再接地)連接時(shí)，引起檢流計(jì)偏轉(zhuǎn)而產(chǎn)生的誤差不應(yīng)大于電橋允許基本誤差的1/10。
3.2 電橋線路對(duì)與線路無(wú)電氣連接的任意點(diǎn)之間的絕緣電阻≥100MΩ。
4 電橋線路絕緣電壓試驗(yàn)的要求
在規(guī)定的條件下，連接在一起的測(cè)量線路與測(cè)試用參考接地端之間，應(yīng)能耐受頻率為45～65Hz的實(shí)際正弦波交流電壓歷時(shí)1min的試驗(yàn)而無(wú)擊穿或放電現(xiàn)象。試驗(yàn)電壓要求見(jiàn)表1。
表1
注：線路絕緣電壓指電橋可以工作的最高對(duì)地電壓。
線路絕緣電壓試驗(yàn)中參考接地端應(yīng)包括所有與此線路無(wú)電氣連接的外露金屬部件。
若絕緣外殼上沒(méi)有金屬部件，則是將被檢電橋包起來(lái)的金屬箔(金屬箔與接線端之間應(yīng)留有20mm的間隙)。
5 裝有內(nèi)附指零儀的電橋，其指零儀應(yīng)滿足以下要求：
5.1 靈敏度的要求
在電橋規(guī)定的使用電壓及總有效量程內(nèi)，電橋測(cè)量端上接上電阻測(cè)量上限或下限，當(dāng)電橋平衡時(shí)，改變電橋測(cè)量盤(pán)(或被測(cè)電阻)的(a/10)%時(shí)(a為被檢電橋的準(zhǔn)確度等級(jí))，指零儀的偏轉(zhuǎn)應(yīng)不小于1分格(1分格不得小于1mm)。達(dá)不到上述要求時(shí)，電橋必須具有外接指零儀的接線端鈕，但內(nèi)附指零儀靈敏度最低不應(yīng)低于1格/(a%×R)(R為被測(cè)量電阻或電橋讀數(shù))。
5.2 阻尼時(shí)間的要求
單電橋或雙電橋指零儀的阻尼時(shí)間不應(yīng)超過(guò)4s；單、雙兩用電橋的指零儀阻尼時(shí)間不應(yīng)超過(guò)6s。
5.3 結(jié)構(gòu)要求
指零儀應(yīng)有機(jī)械調(diào)零及鎖定裝置。
5.4 采用電子放大式指零儀還應(yīng)滿足以下要求：
5.4.1預(yù)熱時(shí)間
準(zhǔn)確度等級(jí)低于或等于0.2級(jí)的電橋、內(nèi)附指零儀預(yù)熱時(shí)間不應(yīng)超過(guò)5min；其余等級(jí)的電橋內(nèi)附指零儀預(yù)熱時(shí)間不應(yīng)超過(guò)15min。
5.4.2指針漂移
指零儀預(yù)熱后，15min內(nèi)指針漂移≤1格；4h內(nèi)指針漂移≤5格。
5.4.3指針抖動(dòng)
用肉眼不易看出。
5.4.4結(jié)構(gòu)要求
應(yīng)有電氣調(diào)零機(jī)構(gòu)。如在使用溫度范圍內(nèi)，10min內(nèi)指針漂移小于1格，可以不裝電氣調(diào)零機(jī)構(gòu)。
二檢定條件
6 檢定電橋的環(huán)境條件
6.1 檢定電橋基本誤差時(shí)的溫度與相對(duì)顯度條件見(jiàn)表2。
表2
6.2 電橋絕緣電阻測(cè)量及線路絕緣電壓試驗(yàn)的條件為：
溫度：15～35℃；
相對(duì)濕度：45～75%；
無(wú)露水、滲水、雨水、陽(yáng)光照射等情況。
7 檢定電橋時(shí)，由標(biāo)準(zhǔn)器、檢定輔助設(shè)備及環(huán)境條件所引起的檢定總不確定度不應(yīng)超過(guò)被檢電橋允許基本誤差的1/3。
8 整體法檢定電橋時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)電阻箱的準(zhǔn)確度等級(jí)不應(yīng)低于表3的規(guī)定。
表3
9 按元件檢定電橋時(shí)，各橋臂電阻元件的允許誤差，測(cè)量誤差、選用標(biāo)準(zhǔn)電阻準(zhǔn)確度等級(jí)見(jiàn)表
4。
表4
(二)量程變換器
注：(1)表中“標(biāo)準(zhǔn)電阻”指在按元件檢定的電橋采用替代法或置換法時(shí)，所選用的標(biāo)準(zhǔn)電阻準(zhǔn)確度等級(jí)；
(2)表中“化整位數(shù)”指各測(cè)量盤(pán)的**點(diǎn)，其它各點(diǎn)的末位數(shù)與**點(diǎn)末位數(shù)對(duì)齊；
(3)表中“允許誤差”≥0.1%時(shí)，可用0.02級(jí)電橋直接測(cè)量，所以表中“標(biāo)準(zhǔn)電阻”均未列；
(4)準(zhǔn)確度等級(jí)低于0.05級(jí)的電橋，一般采用整體法檢定所以表中均未列入；
(5)表中的“允許誤差”是電橋在按元件檢定時(shí)的誤差分配，不能作為判別被檢電橋是否合格的依據(jù)。若檢定結(jié)果中電阻元件的誤差均小于表中所列的“允許誤差”，則該電橋基本誤差合格；若檢定結(jié)果中有部分電阻元件的誤差已超過(guò)表中的“允許誤差”，則必須計(jì)算被檢電橋的最大綜合誤差，才能確定被檢電橋是否合格。
10 按元件檢定的電橋，采用替代法或置換法檢定時(shí)，測(cè)量?jī)x器所引起的誤差不應(yīng)超過(guò)被檢電阻元件允許誤差的1/10。
11 檢定電橋時(shí)，檢流計(jì)靈敏度閥引起的誤差不應(yīng)超過(guò)允許誤差的1/10。
12 檢定裝置中的殘余電勢(shì)、開(kāi)關(guān)接觸電阻及其變差、連接導(dǎo)線電阻、絕緣電阻引起的泄漏及靜電等因素所引起的誤差，都不應(yīng)超過(guò)允許誤差的1/20。
13 半整體檢定電橋時(shí)，量程變換器及測(cè)量盤(pán)的誤差分配均為電橋允許基本誤差的1/2。
14 在檢定電橋的整個(gè)過(guò)程中，流過(guò)標(biāo)準(zhǔn)器及被檢電橋的電流均不應(yīng)超過(guò)它們的允許值。如果對(duì)此沒(méi)有明確規(guī)定時(shí)，則不應(yīng)超過(guò)相當(dāng)于0.05W功率的電流，但不得大于0.5A。
15 在保證檢定總不確定度的條件下，允許采用其它的誤差分配方法。
16 測(cè)量絕緣電阻儀器的要求為：
a.測(cè)量誤差：±30%；
b.直流電壓：500V±10%。
17 用于線路絕緣電壓試驗(yàn)的高壓試驗(yàn)臺(tái)的要求為：
a.有足夠的輸出功率。試驗(yàn)方法是先將高壓輸出端空載(即開(kāi)路)，并將電壓升至欲試驗(yàn)電壓的1/2，設(shè)其為u，隨后接上被試電橋，觀察此時(shí)電源電壓的跌落，若電壓跌落小于0.1u，則可認(rèn)為高壓試驗(yàn)臺(tái)有足夠的輸出功率；
b.絕緣強(qiáng)度試驗(yàn)電壓的誤差：±25%；
c.絕緣擊穿時(shí)，繼電器能自動(dòng)切斷高壓電源，其動(dòng)作電流為5mA，此電流為高壓側(cè)輸出電流；
d.電源頻率：45～65Hz；
e.輸出電壓調(diào)節(jié)細(xì)度小于100V。
三檢定項(xiàng)目
18 直流電橋的檢定項(xiàng)目見(jiàn)表5。
表5
四檢定方法
19 檢定電橋的方法一般有整體檢定、半整體檢定及按元件檢定三種。
整體檢定是用標(biāo)準(zhǔn)電阻箱的電阻示值去比較被檢電橋的示值，從而確定電橋的基本誤差。
按元件檢定是測(cè)量被檢電橋每個(gè)電阻元件的阻值，通過(guò)一定的公式計(jì)算，確定被檢電橋的基本誤差。
半整體檢定是整體檢定量程變換器(或測(cè)量盤(pán))，按元件檢定測(cè)量盤(pán)(或量程變換器)，然后通過(guò)一定的公式計(jì)算，確定被檢電橋的基本誤差。
20 檢定步驟如下：
20.1 外觀檢查
根據(jù)第1條的要求，檢查電橋銘牌或外殼上應(yīng)有的標(biāo)志，同時(shí)檢查電橋外殼、外露部件及插銷接觸狀況、有無(wú)封印位置等。
對(duì)于新生產(chǎn)的電橋都要求完好；對(duì)于使用中的及修理后的電橋，如發(fā)現(xiàn)某一項(xiàng)已嚴(yán)重影響電橋電氣性能時(shí)，則應(yīng)修復(fù)后再進(jìn)行檢定。
20.2 線路檢查
用電阻表檢查電橋內(nèi)部電阻元件，不應(yīng)有斷路或短路的現(xiàn)象，電橋?qū)嶋H線路和銘牌線路(或使用說(shuō)明書(shū)上的線路)應(yīng)相符。對(duì)于裝有內(nèi)附指零儀的電橋，還應(yīng)檢查調(diào)零機(jī)構(gòu)是否正常。
準(zhǔn)確按元件檢定的電橋，則必須找出電橋的節(jié)點(diǎn)(又稱頂點(diǎn))，確定檢定時(shí)的接線位置，如圖1。
單電橋是要對(duì)A、B、C、D節(jié)點(diǎn)之間的AB、BC、DA的電阻進(jìn)行檢定；雙電橋則是要對(duì)A、B、C、D、E、F節(jié)點(diǎn)之間的AC、BD、AF、BE的電阻進(jìn)行檢定。
外觀及線路檢查后，將被檢電橋放在第6.2款規(guī)定的條件下穩(wěn)定至少24h。
20.3 電橋絕緣電阻的測(cè)量
圖1單、雙電橋節(jié)點(diǎn)位置
20.3.1絕緣電阻對(duì)整體誤差影響的試驗(yàn)
將被檢電橋外殼接地(如果被檢電橋的外殼是絕緣材料制成。而且無(wú)接地端鈕，則將電橋放在金屬板上，金屬板再接地)。在被檢電橋測(cè)量端鈕上，接上數(shù)值等于總有效量程中測(cè)量上限值的電阻，調(diào)節(jié)測(cè)量盤(pán)使電橋平衡，此時(shí)指零儀的靈敏度不應(yīng)低于1格/(a/10)%Rx)。隨后另取一根接地線分別接到被檢電橋各接線端鈕(制造廠規(guī)定不允許接地的端鈕除外)。觀察指零儀的偏轉(zhuǎn)所引起的誤差，若不大于被檢電橋允許基本誤差的1/10，則認(rèn)為該電橋的絕緣電阻對(duì)整體誤差影響試驗(yàn)合格，見(jiàn)圖2。
20.3.2電橋線路對(duì)與線路無(wú)電氣連接各點(diǎn)之間絕緣電阻的測(cè)量。
測(cè)量的方法：將絕緣電阻測(cè)量?jī)x的兩測(cè)試端，分別接到電橋線路和與線路無(wú)電氣連接的各金屬點(diǎn)，測(cè)量其絕緣電阻，絕緣測(cè)量?jī)x上的讀數(shù)應(yīng)在電壓施加后1～2min之間進(jìn)行。
圖2 電橋絕緣電阻對(duì)整體誤差影響試驗(yàn)
20.4 線路絕緣電壓試驗(yàn)
將被檢電橋所有接線端鈕用裸銅線連接在一起，高壓試驗(yàn)臺(tái)的兩試驗(yàn)端分別接到電橋線路與測(cè)試用的參考接地端，逐漸升起電壓，當(dāng)升至規(guī)定的試驗(yàn)電壓后，保持1min。如我擊穿或放電現(xiàn)象，則認(rèn)為線路絕緣電壓試驗(yàn)合格。
上述項(xiàng)目試驗(yàn)時(shí)，應(yīng)特別注意**，嚴(yán)格按照有關(guān)高壓試驗(yàn)臺(tái)操作規(guī)范。
絕緣電阻測(cè)量及線路絕緣電壓試驗(yàn)后，將被檢電橋放在檢定溫度及相對(duì)濕度條件下，穩(wěn)定不少于2h，再進(jìn)行以下的檢定。
20.5 電橋內(nèi)附指零儀靈敏度試驗(yàn)
電橋內(nèi)附指零儀靈敏度的試驗(yàn)，應(yīng)在被檢電橋總有效量程的測(cè)量電阻的上、下限上進(jìn)行。電橋的供電電壓應(yīng)根據(jù)制造廠的有關(guān)規(guī)定。測(cè)量端分別接上電阻值為該電橋總有效量程上、下限的電阻，調(diào)節(jié)測(cè)量盤(pán)使電橋平衡，然后將被測(cè)電阻(或測(cè)量盤(pán)電阻)改變RX×a%，觀察指零儀，其偏轉(zhuǎn)不應(yīng)低于5.1款的要求。
20.6 電橋內(nèi)附指零儀阻尼時(shí)間的試驗(yàn)
內(nèi)附指零儀阻尼時(shí)間的試驗(yàn)，也應(yīng)在被檢電橋總有效量程的電阻測(cè)量上、下限上進(jìn)行。調(diào)節(jié)測(cè)量盤(pán)，使指零儀的指針偏轉(zhuǎn)至滿度，隨后切斷電橋供電電源，用秒表測(cè)量指針從滿度回到離開(kāi)零位線≤1min時(shí)的時(shí)間。
20.7 電橋內(nèi)附指零儀零位漂移及指針抖動(dòng)的試驗(yàn)
對(duì)具有內(nèi)附電子放大式指零儀的電橋，還應(yīng)試驗(yàn)指零儀的漂移及抖動(dòng)。其方法是接通指零儀的供電電源，按制造廠規(guī)定的時(shí)間預(yù)熱后，將指零儀的指針調(diào)至零位，過(guò)10min后，指針的偏轉(zhuǎn)不應(yīng)大于1mm，同時(shí)指針不應(yīng)有肉眼能看得出的抖動(dòng)(一般為≤0.3mm)。
20.8 整體檢定
20.8.1全檢量程的確定及檢定
首先確定被檢電橋的全檢量程。所謂全檢量程即在該量程下，對(duì)所有測(cè)量盤(pán)的示值均需一一檢定者。確定全檢量程的原則是：
a.應(yīng)保證被檢電橋**個(gè)測(cè)量盤(pán)加入工作，其示值由1至10時(shí)的各個(gè)電阻測(cè)量值均應(yīng)在該電橋的總有效量程以內(nèi)。
b.整體檢定電橋時(shí)，選用的標(biāo)準(zhǔn)電阻箱應(yīng)保證具有足夠的準(zhǔn)確度和讀數(shù)位數(shù)；
c.根據(jù)用戶的要求，先將標(biāo)準(zhǔn)電阻箱各十進(jìn)盤(pán)及被檢電橋各測(cè)量盤(pán)，從頭至尾來(lái)回轉(zhuǎn)動(dòng)數(shù)次，使其接觸良好，再將標(biāo)準(zhǔn)電阻箱接于被檢電橋的測(cè)量端(見(jiàn)圖3)。調(diào)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)電阻箱十進(jìn)盤(pán)使電橋平衡，這樣用標(biāo)準(zhǔn)電阻箱的示值與被檢電橋測(cè)量盤(pán)全部示值進(jìn)行比較(對(duì)具有滑線盤(pán)的電橋僅比較有數(shù)字標(biāo)記的刻度點(diǎn))。
20.8.2其它量程的檢定
其它量程的檢定則只限于通過(guò)檢定求出該量程與全檢量程的量程系數(shù)比，方法是在被檢電橋的**個(gè)測(cè)量盤(pán)內(nèi)選取三個(gè)示值(其中一個(gè)示值必須是基準(zhǔn)值，其余二個(gè)示值應(yīng)在基準(zhǔn)值附近)，同樣用標(biāo)準(zhǔn)電阻箱的示值去比較，求出該示值的實(shí)際值，用下式計(jì)算量程系數(shù)比M。
式中：M-被檢電橋某一量程對(duì)全檢量程的量程系數(shù)比；
n1、n2、n3-被檢電橋**個(gè)測(cè)量盤(pán)在全檢量程時(shí)所檢得的實(shí)際值；
n1、n2、n3-被檢電橋**個(gè)測(cè)量盤(pán)在欲求量程系數(shù)比的量程下，所檢得的實(shí)際值。
圖3整體檢定單、雙電橋線路圖
上述三個(gè)比值互相之差以相對(duì)誤差表示時(shí)，不應(yīng)超過(guò)(1/3)a%。若超過(guò)，則必須找出原因后重檢，或?qū)υ摿砍踢M(jìn)行全檢。
若標(biāo)準(zhǔn)電阻箱的準(zhǔn)確度等級(jí)比被檢電橋高10倍，則允許只檢定基準(zhǔn)值一個(gè)點(diǎn)，并據(jù)此求出其量程系數(shù)比。
對(duì)于0.05級(jí)及以下的不給出數(shù)據(jù)的電橋，在對(duì)其它量程檢定時(shí)，只要檢定**個(gè)測(cè)量盤(pán)在全檢量程檢定結(jié)果中具有最大正、負(fù)相對(duì)誤差兩個(gè)點(diǎn)，看其是否超差，而不必求出其量程系數(shù)比。
20.8.3整體檢定電橋時(shí)應(yīng)注意的幾個(gè)問(wèn)題
a.要注意連接導(dǎo)線電阻、開(kāi)關(guān)接觸電阻及標(biāo)準(zhǔn)電阻箱的殘余電阻對(duì)檢定結(jié)果帶來(lái)的影響。
b.在整體檢定雙電橋時(shí)，跨線電阻不應(yīng)超過(guò)制造廠的規(guī)定。發(fā)制造廠沒(méi)有明確規(guī)定時(shí)，跨線電阻應(yīng)不大于標(biāo)準(zhǔn)電阻(即圖1中的Rs電阻)與被測(cè)電阻和的1/5，但不得大于0.01Ω。
c.如果標(biāo)準(zhǔn)電阻箱有足夠的調(diào)節(jié)細(xì)度，建議采用完全平衡法：如果標(biāo)準(zhǔn)電阻箱調(diào)節(jié)細(xì)度不夠，建議采用不完全平衡法，它是通過(guò)求所在示值下指零儀的電阻常數(shù)，再根據(jù)指零儀的不平衡偏轉(zhuǎn)格數(shù)，計(jì)算出不平衡偏轉(zhuǎn)格數(shù)所相應(yīng)的電阻值。
d.在檢定雙電橋時(shí)，如果標(biāo)準(zhǔn)電阻箱的調(diào)節(jié)細(xì)度不夠，允許調(diào)節(jié)被檢電橋最后一、二個(gè)測(cè)量盤(pán)，使電橋平衡，此時(shí)電橋測(cè)得讀數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)電阻箱示值之差就是被檢電橋示值的誤差。
20.9 按元件檢定
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)裝置的設(shè)備條件，參照附錄2-4中介紹的測(cè)量電阻元件的方法，求出被檢電橋單個(gè)元件的電阻值。
20.9.1測(cè)量盤(pán)電阻元件及測(cè)量盤(pán)殘余電阻的測(cè)量
測(cè)量盤(pán)電阻元件可以單個(gè)測(cè)量，也可以累計(jì)測(cè)量，選擇的原則是：
a.根據(jù)表4規(guī)定的各測(cè)量盤(pán)電阻測(cè)量誤差的要求，選用相應(yīng)準(zhǔn)確度等級(jí)的標(biāo)準(zhǔn)電阻測(cè)量?jī)x器，直接測(cè)量其累計(jì)電阻值。如電阻元件允許誤差≥0.1%，可用0.02級(jí)電橋直接測(cè)量其電阻值。
b.若被檢電橋測(cè)量盤(pán)結(jié)構(gòu)上允許按單個(gè)電阻元件測(cè)量(例如QJ5電橋)，則可利用同標(biāo)稱值的標(biāo)準(zhǔn)電阻，通過(guò)直流電橋或電位差計(jì)采用替代法進(jìn)行測(cè)量。 c.如果由于缺少相應(yīng)準(zhǔn)確度等級(jí)的電阻測(cè)量?jī)x器以致無(wú)法直接累計(jì)測(cè)量，且被檢電橋結(jié)構(gòu)上又不允許按單個(gè)電阻元件進(jìn)行測(cè)量時(shí)(如QJ19型)，則可采用同標(biāo)稱值標(biāo)準(zhǔn)電阻，通過(guò)單、雙兩用電橋置換法進(jìn)行測(cè)量(當(dāng)然也可以用比較電橋或直讀電橋進(jìn)行測(cè)量)。
d.測(cè)量盤(pán)殘余電阻可用0.1級(jí)雙電橋直接進(jìn)行測(cè)量，重復(fù)測(cè)量三次，每次測(cè)量前將各測(cè)量盤(pán)來(lái)回轉(zhuǎn)動(dòng)數(shù)次，取三次測(cè)量結(jié)果的平均值作為測(cè)量盤(pán)的殘余電阻值。
20.9.2量程變換器電阻的測(cè)量
根據(jù)表4規(guī)定的測(cè)定誤差，當(dāng)有相應(yīng)等級(jí)的電阻測(cè)量?jī)x器時(shí)，可以直接進(jìn)行測(cè)量；或采用同標(biāo)稱值標(biāo)準(zhǔn)電阻通過(guò)單、雙兩用電橋替代法進(jìn)行測(cè)量。
20.10 半整體檢定
半整體檢定按下述順序進(jìn)行
a.按元件測(cè)量測(cè)量盤(pán)電阻值；
b.整體測(cè)量量程變換器比值。
測(cè)量盤(pán)電阻的測(cè)量可參照按元件檢定的方法，量程變換器比值的測(cè)量可用萬(wàn)能比例臂電橋，在缺少萬(wàn)能比例臂電橋時(shí)，可用兩只標(biāo)準(zhǔn)電阻箱組成標(biāo)準(zhǔn)比例，如圖4所示。
圖4 量程變換器整體檢定
20.11 整體核對(duì)
按元件檢定及半整體檢定的電橋，它與實(shí)際使用情況不盡相符，因此檢定后必須進(jìn)行整體核對(duì)，核對(duì)的方法可見(jiàn)附錄5。
21 在保證檢定總不確定度條件下，允許用本規(guī)程以外的方法進(jìn)行檢定，如有爭(zhēng)議時(shí)，以本規(guī)程推薦的方法為準(zhǔn)。
五檢定結(jié)果的處理和檢定周期
22 計(jì)算測(cè)量結(jié)果數(shù)據(jù)，求出被檢電橋示值的修正值或?qū)嶋H值，必要時(shí)還應(yīng)引入標(biāo)準(zhǔn)量具或測(cè)量?jī)x器的修正值。
如果測(cè)量盤(pán)是按元件檢定的。則必須計(jì)算每個(gè)測(cè)量盤(pán)電阻的累計(jì)值(或累計(jì)修正值)。除最后一個(gè)測(cè)量盤(pán)外，上述累計(jì)值都不應(yīng)包括殘余電阻，殘余電阻加在最后一個(gè)測(cè)量盤(pán)的每一個(gè)示值上。
23 檢定數(shù)據(jù)化整時(shí)應(yīng)采用四舍五入及偶數(shù)法則，一般化整到允許誤差的1/10。按元件檢定數(shù)據(jù)化整見(jiàn)表4；整體及半整體檢定數(shù)據(jù)化整見(jiàn)表6。在判斷電橋合格或不合格時(shí)，一律以化整后的數(shù)據(jù)為準(zhǔn)。
表6
注：(1)上述數(shù)據(jù)化整是對(duì)每個(gè)測(cè)量盤(pán)的**點(diǎn)，其它各點(diǎn)的末位數(shù)與**點(diǎn)末位數(shù)對(duì)齊；
(2)0.005級(jí)電橋一般不采用整體檢定，所以表中未列。
24 整體檢定電橋時(shí)，最大綜合誤差按下式進(jìn)行計(jì)算：
式中: ξ+Rxmax、ξ-Rxmax-被檢電橋最大正、負(fù)相對(duì)誤差；
ξ+Mmax、-ξ-Mmax-被檢電橋量程系數(shù)比中最大正、負(fù)相對(duì)誤差；
ξ+Rmax、+ξ-Rmax-被檢電橋全檢量程內(nèi)**、二個(gè)測(cè)量盤(pán)中最大綜合正、負(fù)相對(duì)誤差。
在挑選被檢電橋量程系數(shù)比中最大正、負(fù)相對(duì)誤差時(shí)，若無(wú)正號(hào)相對(duì)誤差，則挑選最小的負(fù)號(hào)相對(duì)誤差；若無(wú)負(fù)號(hào)相對(duì)誤差，則挑選最小的正號(hào)相對(duì)誤差。
**、二個(gè)測(cè)量盤(pán)最大綜合誤差計(jì)算見(jiàn)25.1.1項(xiàng)。第三個(gè)及以后的測(cè)量盤(pán)的最大相對(duì)誤差不應(yīng)超過(guò)表4的規(guī)定。
ξ+Rxmax、ξ-Rxmax相對(duì)誤差以(1/10)a%化整，都不應(yīng)超過(guò)電橋總有效量程內(nèi)的允許基本誤差。
25 按元件檢定的電橋最大綜合誤差計(jì)算
25.1 按元件檢定的單電橋最大綜合誤差計(jì)算(見(jiàn)圖5)
圖5單電橋原理圖
電阻測(cè)量的計(jì)算公式為：
25.1.1 求出測(cè)量盤(pán)R的最大正、負(fù)相對(duì)誤差
測(cè)量盤(pán)一般由多個(gè)十進(jìn)盤(pán)組成，起主要作用的是**、二個(gè)測(cè)量盤(pán)，為了簡(jiǎn)化計(jì)算，測(cè)量盤(pán)的最大綜合誤差僅從**、二個(gè)測(cè)量盤(pán)中求得，第三個(gè)以后的測(cè)量盤(pán)不應(yīng)超過(guò)表4的規(guī)定。
**、**個(gè)測(cè)量盤(pán)的最大綜合誤差按下列方法計(jì)算：
a.當(dāng)每一個(gè)測(cè)量盤(pán)的最大相對(duì)誤差大于或等于**個(gè)測(cè)量盤(pán)的最大相對(duì)誤差時(shí)，**、**個(gè)測(cè)量盤(pán)的最大綜合相對(duì)誤差則為**個(gè)測(cè)量盤(pán)的最大相對(duì)誤差，即：
正號(hào)相對(duì)誤差
負(fù)號(hào)相對(duì)誤差
測(cè)量盤(pán)的最大綜合誤差為ξ+Rmax=ξ+RⅠmax
式中: ξ+Rmax、ξ-RⅠmax-**個(gè)測(cè)量盤(pán)的最大正、負(fù)相對(duì)誤差；
ξ+RⅡmax、-ξ-RⅡmax-**個(gè)測(cè)量盤(pán)的最大正、負(fù)相對(duì)誤差。
b.當(dāng)**個(gè)測(cè)量盤(pán)的最大相對(duì)誤差大于**個(gè)測(cè)量盤(pán)的最大相對(duì)誤差時(shí)，即：
正號(hào)相對(duì)誤差
負(fù)號(hào)相對(duì)誤差
則可近似按下式求出**、**兩個(gè)測(cè)量盤(pán)的最大綜合正、負(fù)相對(duì)誤差
式中:〔R1〕-**個(gè)測(cè)量盤(pán)中最大相對(duì)誤差點(diǎn)所在的電阻標(biāo)稱值；
〔RⅡ〕-**個(gè)測(cè)量盤(pán)中最大**誤差點(diǎn)所在的電阻標(biāo)稱值；
θ+RⅡmax、θ-rⅡmax-在**個(gè)測(cè)量盤(pán)中最大正、負(fù)**誤差。
在計(jì)算最大正、負(fù)相對(duì)誤差時(shí)，應(yīng)注意：當(dāng)?shù)冖駛€(gè)測(cè)量盤(pán)中沒(méi)有正號(hào)(或負(fù)號(hào))相對(duì)誤差時(shí)，則取該盤(pán)中最小的負(fù)號(hào)(或正號(hào))相對(duì)誤差。
25.1.2 求出量程變換器R1及R2中最大正、負(fù)相對(duì)誤差，即：
25.1.3 按下述公式進(jìn)行計(jì)算，求出被檢電橋的最大綜合正、負(fù)相對(duì)誤差。
最大綜合正號(hào)相對(duì)誤差
最大綜合負(fù)號(hào)相對(duì)誤差
25.2 按元件檢定雙電橋最大綜合誤差計(jì)算(見(jiàn)圖6)
圖6雙電橋原理圖
被測(cè)電阻的計(jì)算公式為：
雙電橋最大綜合誤差計(jì)算步驟如下：
25.2.1 求出內(nèi)附標(biāo)準(zhǔn)電阻RS中的最大正、負(fù)相對(duì)誤差，即
若被檢電橋內(nèi)無(wú)此標(biāo)準(zhǔn)電阻，則RS的相對(duì)誤差取為零。
25.2.2 求出測(cè)量盤(pán)外臂最大正、負(fù)相對(duì)誤差(方法同單電橋多個(gè)十進(jìn)盤(pán)最大相對(duì)誤差計(jì)算)。即：
由于雙電橋的內(nèi)、外臂是同步的，根據(jù)測(cè)量盤(pán)的外臂最大正、負(fù)相對(duì)誤差所在點(diǎn)，找出相對(duì)應(yīng)的測(cè)量盤(pán)內(nèi)臂的相對(duì)誤差。注意該誤差不一定是內(nèi)臂的最大相對(duì)誤差，誤差符號(hào)可能是正，也可能是負(fù)。
右上角(+)或(-)是指根據(jù)ξ+R1max及ξR1max對(duì)應(yīng)找出的R′1的誤差，因此加上括號(hào)。
25.2.3 在量程變換器的外臂中求出最大的正、負(fù)相對(duì)誤差，即：
由于雙橋電橋的內(nèi)、外臂是同步的，根據(jù)量程變換器外臂最大正、負(fù)相對(duì)誤差，求出相對(duì)應(yīng)的量程變換器內(nèi)臂的相對(duì)誤差，即：
25.2.4 按下式計(jì)算，求出雙電橋的最大正、負(fù)相對(duì)誤差：
式中K-系數(shù)，按制造廠規(guī)定。若沒(méi)有規(guī)定時(shí)，K取0.2。
計(jì)算出的ξ+Rxmax及ξ-Rxmax按四舍五入及偶數(shù)法則化整至(1/10)a%。判斷其是否超過(guò)被檢電橋允許基本誤差。
26 半整體檢定的電橋，最大綜合誤差計(jì)算參照上述方法進(jìn)行。
27 由于按元件檢定的電橋，最大綜合誤差計(jì)算比較麻煩。因此在綜合誤差計(jì)算之前先檢查檢定數(shù)據(jù)，若檢定結(jié)果中的電阻元件誤差均小于表4的規(guī)定，該電橋基本誤差肯定合格，不必再計(jì)算最大綜合誤差。
28 檢定證書(shū)或檢定結(jié)果通知書(shū)上是否給出數(shù)據(jù)規(guī)定如下：
0.005級(jí)；0.01級(jí)；0.02級(jí)給出數(shù)據(jù)
從0.05級(jí)和以下一般不給出數(shù)據(jù)
29 根據(jù)18條規(guī)定的檢定項(xiàng)目均合格的出具檢定證書(shū)；其中有一項(xiàng)不合格的出具檢定結(jié)果通知書(shū)，并在檢定結(jié)果通知書(shū)上注明不合格的情況。
29.1 初次送檢(包括缺少上一年檢定證書(shū)的、超周期送檢的和剛修理過(guò)的)電橋檢定結(jié)果合格的，出具檢定證書(shū)，但不予定級(jí)，并在檢定證書(shū)上注明：“基本誤差合格，年穩(wěn)定度未經(jīng)考察暫不定級(jí)”。
29.2 經(jīng)連續(xù)二年檢定且檢定結(jié)果均合格的，按下列四種情況處理：
29.2.1 不給出數(shù)據(jù)的電橋，出具檢定證書(shū)并定級(jí)。
29.2.2 出具數(shù)據(jù)的電橋，其年穩(wěn)定度小于或等于允許基本誤差的1/2者，出具檢定證書(shū)并定級(jí)。
29.2.3 出具數(shù)據(jù)的電橋，其年穩(wěn)定度大于允許基本誤差的1/2，但小于允許基本誤差時(shí)，出具檢定證書(shū)并定級(jí)，但檢定周期縮短為半年。
29.2.4 出具數(shù)據(jù)的電橋，其年穩(wěn)定度大于允許基本誤差時(shí)，出具檢定證書(shū)，但不予定級(jí)，并在檢定證書(shū)上注明，“年穩(wěn)定度大于允許基本誤差，不予定級(jí)”。
30 考核電橋年穩(wěn)定度時(shí)，采用整體或半整體檢定的電橋，測(cè)量盤(pán)與量程系數(shù)比分別考核；采用按元件檢定的電橋以元件電阻來(lái)考核，而不是以最大綜合誤差來(lái)考核。
31 使用中的電橋檢定結(jié)果不合格者，根據(jù)用戶申請(qǐng)，允許降**使用，但在降到下**時(shí)，必須全部符合該級(jí)的各項(xiàng)技術(shù)要求，同時(shí)仍可出具檢定證書(shū)，并在檢定證書(shū)上注明該電橋已降到的等級(jí)。
32 本規(guī)程頒布之前生產(chǎn)的、從國(guó)外早已進(jìn)口的電橋(不包括進(jìn)口驗(yàn)收)，根據(jù)電橋外觀特征及檢定結(jié)果，按本規(guī)程技術(shù)要求進(jìn)行定級(jí)，但不得高于原有的等級(jí)。
外觀特征可定的等級(jí)(級(jí))
有效讀數(shù)位數(shù)或測(cè)量盤(pán)
六位 0.005；0.01；0.02
五位 0.02；0.05
四位以下 0.1以下
33 在檢定證書(shū)或檢定結(jié)果通知書(shū)上，應(yīng)有檢定時(shí)的溫度、相對(duì)濕度、檢定周期。出具數(shù)據(jù)的電橋還應(yīng)給出檢定總不確定度。
六檢定周期
34 直流電橋的檢定周期一般為一年。
附錄1直流電橋工作原理
1 單電橋
單電橋的原理線路如圖1所示，通過(guò)調(diào)節(jié)測(cè)量盤(pán)R，使指零儀指零，B、D兩點(diǎn)電位相等，電橋達(dá)到平衡，則R1、RX上的電壓分別等于R2、R上的電壓
兩式相除
圖1單電橋原理圖
從(3)式可知，已知R1、R2和R就可求得未知電阻RX。
對(duì)(3)式作對(duì)數(shù)并進(jìn)行微分運(yùn)算，可求得以下公式：
式中ξRX、ξR1、ξR、ξR-分別為RX、R1、R、R2的相對(duì)誤差。
顯然被測(cè)電阻的相對(duì)誤差取決于R1、R2、R的相對(duì)誤差，并且與線路中的熱電勢(shì)、絕緣電阻、指零儀靈敏度等因素有關(guān)。其中有些電橋的指零儀、電源是內(nèi)附的，有的是外配的。
圖1中A、B、C、D四點(diǎn)稱為橋頂(有時(shí)亦稱節(jié)點(diǎn))，R1、R2稱為量程變換器，R稱為測(cè)量盤(pán)。
2 雙電橋
由于單電橋中引線電阻是直接和被測(cè)電阻相串聯(lián)的，所以當(dāng)被測(cè)電阻較小時(shí)，會(huì)產(chǎn)生較大的誤差。如果將被測(cè)電阻做成四端鈕結(jié)構(gòu)，如圖2所示的雙電橋線路，則被測(cè)電阻的電流引線、電位引線分別接入電流回路和較高的電阻值橋臂中去，從而減小引線電阻對(duì)被測(cè)電阻的影響。如調(diào)節(jié)測(cè)量盤(pán)R1(R1)，使電橋達(dá)到平衡，則將三角形DEF化成等值星形DEF，根據(jù)單電橋原理可得：
圖2雙電橋原理線路圖
代入并簡(jiǎn)化：
由(4)可知，為了使公式簡(jiǎn)化并減少測(cè)量誤差，在結(jié)構(gòu)上組成R1=R1,R2=R′2，并盡量減小跨線電阻Rp，略去**項(xiàng)得
由(5)可知，若已知Rs，R1，R2，即可求得RX。對(duì)(4)式作微分運(yùn)算，并取相對(duì)值可得：
顯然與單電橋一樣，被測(cè)電阻的誤差取決于各電阻元件的誤差、線路熱電勢(shì)、絕緣電阻等因素。
圖2中R1，R2為外臂，R1，R2為內(nèi)臂。
附錄2用電位差計(jì)法測(cè)量電阻
用電位差計(jì)法測(cè)量電阻可按圖1所示的線路連接，圖中以P1表示電流回路換向開(kāi)關(guān)；P2表示測(cè)量電壓轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)；RX表示被測(cè)電阻。該方法是用電位差計(jì)測(cè)量被測(cè)電阻(RX)和標(biāo)準(zhǔn)電阻(RS)上的電壓降ux和us，并計(jì)算其值。當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)電阻值與電壓降之比皆為已知，則被測(cè)電阻值可按下式進(jìn)行計(jì)算：
此法的特點(diǎn)是：連接被測(cè)電阻與電位差計(jì)之間的導(dǎo)線電阻和接觸電阻不會(huì)引起測(cè)量誤差，測(cè)量電阻的范圍寬，測(cè)量電阻的準(zhǔn)確度也比較高。如用低電勢(shì)電位差計(jì)來(lái)進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量裝置的指零儀靈敏度也較高。
圖1電位差計(jì)測(cè)量電阻原理圖
為了獲得較高的電阻測(cè)量準(zhǔn)確度，還應(yīng)注意以下幾點(diǎn)：
a.用曜閏差計(jì)測(cè)量電阻時(shí)，由標(biāo)準(zhǔn)器引入的系統(tǒng)誤差為：
式中: ξRX、ξRS-RX、RS的相對(duì)誤差；
ξUX、ξUs-電位差計(jì)測(cè)量ux、us的相對(duì)誤差。
如果比較同標(biāo)稱值電阻，通過(guò)的工作電流保持恒定，使ux、us的前三位數(shù)字不變，則可達(dá)到較高的測(cè)量準(zhǔn)確度，因?yàn)榇藭r(shí)ξux≈ξus，那么ξRx≈ξRs，即電位差計(jì)的測(cè)量誤差幾乎不影響測(cè)量結(jié)果。
如果被檢電橋的單個(gè)電阻標(biāo)稱值為1、2、3…示值，或測(cè)量盤(pán)無(wú)電位插孔(觸頭)，則測(cè)量時(shí)可利用過(guò)渡電阻箱作為標(biāo)準(zhǔn)(Rs)進(jìn)行元件檢定，過(guò)渡電阻箱電位端鈕間能得到與被測(cè)電阻相同的標(biāo)稱值，其余與上述相同。如果沒(méi)有過(guò)渡電阻箱，仍用標(biāo)準(zhǔn)電阻作標(biāo)準(zhǔn)，則要求Ux的示值也為1、2、3倍于us，由于ξux≠ξus，則電位差計(jì)的示值誤差就要引入，若用方和根法合成，得ξRx=±√ξR1+ξux＋ξuR，ξRx應(yīng)要求不超過(guò)被測(cè)電阻允許測(cè)量誤差。
b.E1、E2兩個(gè)回路電流要保持足夠的相對(duì)穩(wěn)定。
c.為減小測(cè)量回路熱電勢(shì)的影響，在電壓回路內(nèi)應(yīng)選擇熱電勢(shì)較小的開(kāi)關(guān)，并用同軸單股銅導(dǎo)線架空連接以及避免多余的接頭和動(dòng)觸點(diǎn)。
當(dāng)Rx和Rs為同標(biāo)稱值時(shí)，用電位差計(jì)測(cè)量電阻，可以采用完全平衡法或不完全平衡法。上面(1)式是完全平衡法公式，下面的(3)式是不完全平衡法公式
式中: -電阻常數(shù)；
ax、as-開(kāi)關(guān)P2分別轉(zhuǎn)向Rx、Rs時(shí)指零儀上讀出的偏轉(zhuǎn)格數(shù)；
a1、a2-求電阻常數(shù)時(shí)，分別在電位差計(jì)上示值為u1、u2時(shí)指零儀上讀得的偏轉(zhuǎn)格數(shù)；
u1、u2-電位差計(jì)示值。
另外說(shuō)明一下，用電位差計(jì)法測(cè)量電阻時(shí)，電位差計(jì)工作電流標(biāo)準(zhǔn)化要求不高。
附錄3用電橋法測(cè)量電阻
1 用單電橋測(cè)量電阻元件時(shí)可按圖1的線路連接。圖中Mx表示被檢電橋，ms表示標(biāo)準(zhǔn)電橋。
圖1單電橋測(cè)量電阻接線圖
對(duì)于不能按單個(gè)電阻元件測(cè)量的電橋，可用轉(zhuǎn)換法測(cè)量電阻，見(jiàn)附錄4。
2 用雙電橋測(cè)量電阻元件，可按圖2線路連接。
圖2 雙電橋測(cè)量電阻接線圖
電阻Rp的測(cè)量方法如下，將橋臂R1切斷，則雙電橋轉(zhuǎn)化成為一個(gè)單電橋，Rp和Rx共處于一個(gè)橋臂，重新平衡電橋R1得R(1)，則Rp為
式中Rs-已知固定標(biāo)準(zhǔn)電阻。
附錄4用置換法測(cè)量電阻
在對(duì)電橋測(cè)量盤(pán)按元件檢定，而被測(cè)量盤(pán)的結(jié)構(gòu)不上允許按單個(gè)元件測(cè)量(無(wú)法獲得每個(gè)電阻元件電位觸頭)的情況下，可用與被測(cè)電阻同標(biāo)稱值的標(biāo)準(zhǔn)電阻以及兩用電橋置換法進(jìn)行檢定。當(dāng)然也可用比較電橋、直讀電橋等其它方法進(jìn)行檢定。
下面的公式推導(dǎo)將會(huì)看出，采用置換法進(jìn)行檢定實(shí)質(zhì)上就是被測(cè)電阻元件通過(guò)電橋與標(biāo)準(zhǔn)電阻進(jìn)行比較，它的測(cè)量準(zhǔn)確度主要取決于標(biāo)準(zhǔn)電阻。而且在測(cè)量結(jié)果中不包括連接導(dǎo)線電阻與被測(cè)量盤(pán)的殘余電阻。
當(dāng)被檢電橋測(cè)量盤(pán)單個(gè)電阻大于100Ω時(shí)，可用單電橋進(jìn)行測(cè)量，如圖1。
圖1單電橋置換法測(cè)量電阻
圖中: Rs-標(biāo)準(zhǔn)電阻，其兩根電位差導(dǎo)線電阻應(yīng)盡量相等；
Mx-被檢電橋測(cè)量盤(pán)，圖中僅畫(huà)出一個(gè)；
r-連接導(dǎo)線電阻；
K-開(kāi)關(guān)，接觸電阻要小；
Rs-標(biāo)稱值與Rs相同的輔助電阻。
此外，R0為被檢電橋測(cè)量盤(pán)的殘余電阻(圖中未畫(huà)出)。
檢定步驟
1 開(kāi)關(guān)K倒向1，被檢測(cè)量盤(pán)示值置零；
2 用電橋測(cè)量得Rx0(1)
3 開(kāi)關(guān)K倒向2，被檢電橋測(cè)量盤(pán)示值置1；
4 再次平衡電橋，測(cè)得Rx1
(1)-(2)移項(xiàng)得：
令ΔR=Rx1-Rx2
則
式中R(1)-被檢測(cè)量盤(pán)的**只電阻實(shí)際值。
根據(jù)同樣的方法可檢得被檢測(cè)量盤(pán)**至第十只電阻實(shí)際值，然后將R(1)、R(2)…R(0)相加，即為被檢測(cè)量盤(pán)各輸出點(diǎn)電阻累計(jì)實(shí)際值。
對(duì)于電阻值≤100Ω的測(cè)量盤(pán)，可用雙電橋置換法進(jìn)行，其測(cè)量原理和步驟與單電橋相同，見(jiàn)圖2。
圖2雙電橋置換法測(cè)量電阻圖
Mx-被檢測(cè)量盤(pán)；
Rs-標(biāo)準(zhǔn)電阻；
M′x-輔助電阻箱。
附錄5半整體檢定及按元件檢定電橋的整體核對(duì)方法
由于半整體檢定及按元件檢定的電橋與實(shí)際使用情況不相符合，這時(shí)必須對(duì)電橋進(jìn)行整體核對(duì)，整體核對(duì)的方法如下。
在被檢電橋總有效量程的電阻測(cè)量上、下限，選用比被檢電橋高二個(gè)以上準(zhǔn)確度等級(jí)的標(biāo)準(zhǔn)電阻，接入被檢電橋測(cè)量端進(jìn)行測(cè)量，測(cè)得的數(shù)據(jù)引入電橋的相應(yīng)修正值，然后將引入修正值后的測(cè)量數(shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)電阻實(shí)際值相比較，它們之間的相對(duì)差值不應(yīng)超過(guò)(a/2)%。
式中: R′s-在被檢電橋上測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)電阻的數(shù)據(jù)(注意必須引入被檢電橋相應(yīng)各橋臂的修正值)；
Rs-標(biāo)準(zhǔn)電阻實(shí)際值，一般為標(biāo)準(zhǔn)電阻證書(shū)值(注意測(cè)量時(shí)溫度影響的修正)。
若上式＞(a/2)%，則必須找出原因后重檢。
附錄6直流電橋有關(guān)名詞術(shù)語(yǔ)及定義
1 量程變換器
一個(gè)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)或類似的裝置，靠它可將有效量程乘上一個(gè)被稱為“量程因素”或“量程倍率”的系數(shù)，如0.1。
2 有效量程
對(duì)于一個(gè)給定的量程因數(shù)，電橋能以規(guī)定準(zhǔn)確度進(jìn)行測(cè)量的最低與最高電阻值之間的阻值范圍。
3 總有效量程
使用所有量程因數(shù)都能以規(guī)定的準(zhǔn)確度進(jìn)行測(cè)量的總電阻值范圍。
4 標(biāo)度盤(pán)示值
電橋平衡后的測(cè)量盤(pán)置數(shù)。
5 測(cè)量盤(pán)
據(jù)以確定測(cè)量電阻阻值的讀數(shù)盤(pán)。
6 跨線電阻
對(duì)雙電橋(“國(guó)標(biāo)”稱四端式電橋)來(lái)說(shuō)，作為標(biāo)準(zhǔn)電阻(RN)和被測(cè)電阻(Rx)之間，電流端連接導(dǎo)線電阻再加上(Rs)和(Rx)內(nèi)部的電流導(dǎo)線的電阻。
7 基準(zhǔn)值
為了規(guī)定電橋的準(zhǔn)確度，供電橋各有效量程參經(jīng)的一個(gè)單值。除非制造廠另有規(guī)定，一個(gè)給定的有效量程的基準(zhǔn)值即為該量程最大的、10的整數(shù)冪。
8 測(cè)量端
用來(lái)連接被測(cè)電阻的端鈕。
整體檢定電橋封里格式
檢定結(jié)果
注：1 上述檢定數(shù)據(jù)的總不確定度(2σ)為允許基本誤差的1/3。
2 下次送檢時(shí)必須帶此證書(shū)(或通知書(shū))。
按元件檢定封里格式
檢定結(jié)果
注: 1 上述檢定數(shù)據(jù)的總不確定度(2σ)為允許基本誤差折1/3。
2 下次送檢時(shí)必須帶此證書(shū)（或通知書(shū)）。